[发明专利]用于检测分子相互作用的装置和方法有效
| 申请号： | 201010585557.8 | 申请日： | 2005-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN102121054A | 公开（公告）日： | 2011-07-13 |
| 发明（设计）人： | 亚力山大·德沃拉克;托马斯·艾林格尔;尤金·埃曼特劳特;托尔斯泰·舒尔茨;托马斯·乌尔里希;托马斯·凯泽 | 申请（专利权）人： | 科隆迪亚戈芯片技术有限公司 |
| 主分类号： | C12Q1/68 | 分类号： | C12Q1/68 |
| 代理公司： | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人： | 徐关寿 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明用于定性和/或定量检测探针分子和样品溶液中靶分子之间的相互作用的系统，包含：用于接收反应室的部件，其中，反应室由第一表面和第二表面之间形成，探针分子被固定在微阵列上的阵列元件上，该微阵列被放置在第一表面上；以及该微阵列与第二表面之间的距离是可变的；检测部件，它被构建成当微阵列与第二表面之间的距离减少时能够进行检测；一种工具，通过该工具可以相对于第二表面指导该微阵列。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 分子 相互作用 装置 方法 | ||
【主权项】：
用于定性和/或定量检测探针分子和样品溶液中靶分子之间的相互作用的系统，包含：用于接收反应室的部件，其中，反应室由第一表面和第二表面之间形成，探针分子被固定在微阵列上的阵列元件上，该微阵列被放置在第一表面上；以及该微阵列与第二表面之间的距离是可变的；检测部件，它被构建成当微阵列与第二表面之间的距离减少时能够进行检测；一种工具，通过该工具可以相对于第二表面指导该微阵列。
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