[发明专利]一种金箔含金量的快速测定方法有效

专利信息
申请号: 201010578703.4 申请日: 2010-12-08
公开(公告)号: CN102128850A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 伏荣进;周骏贵;王东辉 申请(专利权)人: 南京市产品质量监督检验院
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 210028 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种金箔含金量的快速测定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤1、对金箔样品进行前处理;步骤2、轧紧金箔样品;步骤3、仪器测试。本发明通过对金箔样品进行前处理,再用X荧光光谱法测试,一方面解决了有损方法带来的样品称量误差的问题,另一方面更是很好的克服了金箔样品厚度薄,在X荧光光谱仪测试中易被X荧光光束击穿,导致数据失真的缺陷,具有快速、准确、无损耗的优点。
搜索关键词: 一种 金箔 含金量 快速 测定 方法
【主权项】:
一种金箔含金量的快速测定方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤1、对金箔样品进行前处理:1)选取三张平整完好的金箔,将三张金箔叠落在一起,放置在衬纸中心位置上,然后将衬纸连同金箔一起沿横向中心线对折,对折后,将衬纸展开,金箔呈折叠状;2)将上述步骤中对折后的金箔再次利用衬纸沿纵向中心线对折,对折后,展开衬纸;3)依此类推,重复步骤1)及步骤2)将金箔共折叠八次,制成金箔样品;步骤2、轧紧金箔样品:将折叠好的金箔样品用包装金箔的纸夹好,将轧片机厚度调至最低,把夹好的金箔连同包装纸一同放入轧片机轧紧,形成一个致密的金箔片;步骤3、仪器测试:将轧紧的金箔样品放入X荧光光谱仪中进行测试,得出金箔含金量测试结果。
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