[发明专利]热板温度均匀性测试方法无效
申请号: | 201010578121.6 | 申请日: | 2010-12-08 |
公开(公告)号: | CN102566284A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 黄玮 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华科技有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;H01L21/66 |
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地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种热板温度均匀性测试方法,其包括步骤:提供两个非对称图形并放置于光刻版上,该两个非对称图形之间具有距离D1及两个非对称图形各自中心线之间具有距离L1;设定曝光后烘烤(PEB)温度;将曝光后的放置有两个非对称图形的圆片进行曝光后烘烤,形成潜像图形,两个非对称图形之间的距离变化为D2且两个非对称图形各自中心线之间的距离变化为L2;上述两个非对称图形组成光刻机的对位标记或特定测试结构,利用光刻机的对位系统测定各对位标记或特定测试结构的坐标/距离,并比较测试值和理论数值的差异以定量反映热板温度的均匀性。本发明利用非对称图形经过PEB后最终形成的潜像图像的中心发生偏移的特性,定量反应热板温度的均匀性。 | ||
搜索关键词: | 温度 均匀 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种热板温度均匀性测试方法,其特征在于:其包括步骤:步骤一:提供两个非对称图形并放置于光刻版上,该两个非对称图形之间具有距离D1及两个非对称图形各自中心线之间具有距离L1;步骤二:设定曝光后烘烤(PEB)温度;步骤三:将曝光后有两个非对称图形的圆片进行曝光后烘烤,形成潜像图形,两个非对称图形之间的距离变化为D2且两个非对称图形各自中心线之间的距离变化为L2;步骤四:上述两个非对称图形组成光刻机的对位标记或特定测试结构,利用光刻机的对位系统测定各对位标记或特定测试结构的坐标/距离,并比较测试值和理论数值的差异以定量反映热板温度的均匀性。
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