[发明专利]一种压电晶片本征频率的测量方法无效
| 申请号： | 201010552783.6 | 申请日： | 2010-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN102095490A | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 曹静;蔡桂喜;张恩勇;周庆祥;沙勇;董瑞琪;刘芳;张双楠;刘畅 | 申请（专利权）人： | 中国海洋石油总公司;中海石油研究中心;中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01H11/08 | 分类号： | G01H11/08 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐宁;关畅 |
| 地址： | 100010 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种压电晶片本征频率的测量方法，其包括以下步骤：1)设置一包括函数发生器、压电晶片和数字示波器的测量装置；2)开启函数发生器，使其产生一定周期数的Tone-Burst正弦波信号，函数发生器以频率f对压电晶片进行电脉冲激励；当函数发生器完成周期数时，对压电晶片的电脉冲激励停止，压电晶片开始自由振动，通过数字示波器采集压电晶片两电极之间的自由振动信号；3)调节数字示波器，将步骤2)中压电晶片两电极之间的自由振动信号放大，并对该放大信号进行快速傅立叶变换分析；4)取步骤3)中傅立叶变换分析得到的频谱图上的峰值的频率，则为该被测压电晶片的本征频率；5)调节改变步骤2)中函数发生器的频率f，重复步骤3)和步骤4)，测得压电晶片的各个本征频率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 压电 晶片 频率 测量方法 | ||
【主权项】：
一种压电晶片本征频率的测量方法，其包括以下步骤：1)设置一测量装置，其包括一函数发生器，所述函数发生器的输出端连接压电晶片的两电极，所述压电晶片的两电极上还并联连接一数字示波器；2)开启函数发生器，使其产生一定周期数的Tone‑Burst正弦波信号，调节函数发生器以频率f对压电晶片进行电脉冲激励，使压电晶片产生振动；当函数发生器完成周期数时，对压电晶片的电脉冲激励停止，压电晶片开始自由振动，通过数字示波器采集压电晶片两电极之间的自由振动信号；3)调节数字示波器，将步骤2)中压电晶片两电极之间的自由振动信号放大，并对该放大信号进行快速傅立叶变换分析；4)取步骤3)中傅立叶变换分析得到的频谱图上的峰值的频率，则为该被测压电晶片的本征频率；5)调节改变步骤2)中函数发生器的频率f，重复步骤3)和步骤4)，可测得压电晶片的各个本征频率。
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