[发明专利]一种相位检测电路无效
| 申请号： | 201010530775.1 | 申请日： | 2010-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN102012459A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 胡国良;魏王江 | 申请（专利权）人： | 苏州合欣美电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 楼高潮 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏州高新技术*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种相位检测电路，包括一检测芯片，所述检测芯片的检测端口A/D连接在一光耦U1的集电极输出端，光耦U1的集电极输出端连接一上拉电阻R3，所述光耦U1的发射极输出端接地，所述光耦U1的第一输入端连接电阻R2，所述电阻R2连接电阻R1，所述电阻R1连接二极管D1，所述二极管D1连接检测端N，所述光耦U1的第二输入端接地。本发明的电路结构简单，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种相位检测电路，包括一检测芯片(5)，其特征在于：所述检测芯片(5)的检测端口A/D连接在一光耦U1的集电极输出端(4)，光耦U1的集电极输出端(4)连接一上拉电阻R3，所述光耦U1的发射极输出端(3)接地，所述光耦U1的第一输入端(1)连接电阻R2，所述电阻R2连接电阻R1，所述电阻R1连接二极管D1，所述二极管D1连接检测端N，所述光耦U1的第二输入端(2)接地。
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