[发明专利]绝缘栅双极晶体管无效

专利信息
申请号: 201010530388.8 申请日: 2010-11-02
公开(公告)号: CN102064191A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 盛况;崔京京;郭清 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 周烽
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种绝缘栅双极晶体管,它的底部为集电极,向上依次集成集电区、缓冲层、漂移区、P阱区和发射区。发射区顶部覆盖有发射极,栅极9横跨在发射区、P阱区和漂移区之上,栅极处在多晶硅之中。SiO2绝缘层横向穿入漂移区或同时横向穿入P阱区和漂移区。本发明在普通绝缘栅双极晶体管的基础上,器件内部加入一层SiO2绝缘层,实现了在不损失绝缘栅双极晶体管关断电压的情况下降低通态压降,有效减少绝缘栅双极晶体管的通态电阻,使得绝缘栅双极晶体管导通损耗更小,本发明工业生产中工艺也并不复杂,相比于其他降低绝缘栅双极晶体管通态损耗的技术,更能节约生产成本,即以相对较低的成本提升绝缘栅双极晶体管的工作性能。
搜索关键词: 绝缘 双极晶体管
【主权项】:
一种绝缘栅双极晶体管,其特征在于,它的底部为集电极(1),向上依次集成集电区(2)、缓冲层(3)、漂移区(4)、P阱区(6)和发射区(7)。发射区(7)顶部覆盖有发射极(8),栅极(9)横跨在发射区(7)、P阱区(6)和漂移区(4)之上,栅极(9)处在多晶硅(10)之中。SiO2绝缘层(5)横向穿入漂移区(4)或同时横向穿入P阱区(6)和漂移区(4)。
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