[发明专利]一种基于双队列的容错测量方法无效

专利信息
申请号: 201010521783.X 申请日: 2010-10-27
公开(公告)号: CN102012242A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 严明;张跃辉;杨斌 申请(专利权)人: 湘潭三丰电子科技有限公司
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00;G01G17/08
代理公司: 湘潭市汇智专利事务所 43108 代理人: 颜昌伟
地址: 411101 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明属于自动控制技术领域,具体涉及一种对外部物理量的基于双队列的容错测量方法。本方法采用双队列存放测量数据,根据有效性判断和兼容性判断的方法进行测量。物理量的测量采用高精度快速多次采样取均值的方法消除随机误差,提高测量精度。测量结果进入队列之前进行有效性判断,根据设定动态随机误差范围,判断结果是否有效,用于消除一次随机事件干扰。当出现连续两次随机事件干扰并已被采样队列记录时,测量结果进入候补队列,并最终给出正确的测量结果。该测量方法能够消除正态分布特征的随机误差,排除一次随机错误,并在容许连续两次随机错误的情况下正确测量物理量。本发明方法可普遍适用于具有动态随机误差特性的物理量的测量。
搜索关键词: 一种 基于 队列 容错 测量方法
【主权项】:
一种基于双队列的容错测量方法,其特征在于包括如下顺序的步骤:(1)首先,针对不同的物理量,设定四个参数:(a)测量的间隔周期T,即多次测量物理量之间等待的时间;(b)随机误差的范围W,即用于确定测量数据有效性的误差范围;(c)测量结果确定的次数N,即确定测量结果所需的有效测量次数;(d)最大测量次数M,即测量结果确定前,允许最大的测量物理量的次数;(2)测量开始后,对物理量进行精确测量,对每个测量结果进行如下处理:其一,测量结果首先进行采样队列处理:将前两次测量结果直接进入采样队列;后续的测量结果首先根据设定的误差容限W,以及采样队列内的测量结果,判断该测量数据的有效性;若判断为有效数据,则直接进入采样队列,将有效数据个数加1;若有效数据个数达到设定的参数N,则结束测量,将采样队列中的有效数据取均值返回;若不能确定其有效性,则判断该数据与采样队列中数据的兼容性,若与采样队列中的数据兼容,则更新采样队列中的测量数据;其二,对于无法判断数据有效性,又与现有采样队列数据不兼容的测量数据,进行候选测量处理:将前两次候选测量结果直接进入候选队列;后续的候选测量结果首先根据设定的误差容限W,以及候选队列内数据进行有效性判断;若判断为有效数据,则进入候选队列,将候选有效数据个数加1;若候选有效数据个数达到设定的参数N,则结束测量,将候选队列中的有效数据取均值返回;若仍不能判断数据的有效性,则判断该数据与候选队列中数据的兼容性,若与候选队列中数据兼容,则更新候选队列中的测量数据;其三,若不能确定测量数据的有效性,测量数据又不与所述采样队列和候选队列兼容,则判断测量次数是否达到设定参数M:(a)若达到设定参数M,则结束测量,根据采样队列和候选队列中有效数据较多的队列数据取均值,确定测定结果;(b)若未达到设定参数M,则等待设定参数T的间隔时间后再次进行测量。
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