[发明专利]用于薄膜晶体管的氧化物半导体薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201010513707.4 申请日: 2010-10-20
公开(公告)号: CN102110718A 公开(公告)日: 2011-06-29
发明(设计)人: 彭俊彪;兰林锋;王磊 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/26;H01L21/02;C23C14/34;C23C14/08
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 李卫东
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了用于薄膜晶体管的氧化物半导体薄膜及其制备方法,该氧化物半导体薄膜材料成分为:(Al2O3)x(Nd2O3)y(In2O3)z(ZnO)(1-x-y-z),其中,0<x<1,0<y<1,0<z<1,0<1-x-y-z<1,该氧化物半导体薄膜材料用于制作薄膜晶体管的有源层。这种氧化物半导体薄膜可以用溅射方法制备。本发明的氧化物半导体薄膜具有载流子迁移率高、稳定性好、可以透射可见光等优点,这种氧化物半导体薄膜可以用于制备薄膜晶体管,包括所发明的氧化物半导体薄膜的晶体管可以应用在有机发光显示(OLED)、液晶显示(LCD)、电子纸显示等驱动方面,还可以应用在集成电路领域。
搜索关键词: 用于 薄膜晶体管 氧化物 半导体 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
一种用于薄膜晶体管的氧化物半导体薄膜,其特征在于:该氧化物半导体薄膜材料成分为:(Al2O3)x(Nd2O3)y(In2O3)z(ZnO)(1‑x‑y‑z),其中,0<x<1,0<y<1,0<z<1,0<1‑x‑y‑z<1,该氧化物半导体薄膜材料用于制作薄膜晶体管的有源层。
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