[发明专利]位置侦测的方法与装置有效
申请号: | 201010510040.2 | 申请日: | 2010-10-08 |
公开(公告)号: | CN102043556A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | 张钦富;李政翰;唐启豪;何顺隆 | 申请(专利权)人: | 禾瑞亚科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾台北市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种位置侦测的方法与装置。借由在感测装置的横轴与纵轴上进行自电容式侦测,以提供自电容式侦测的结果。依据自电容式侦测的结果进行第一次互电容式侦测,以判断出第一一维度位置。依据第一次互电容式侦测的结果进行第二次互电容式侦测,以判断出第二一维度位置。第一一维度位置与第二一维度位置可构成二维度位置。此外,在进行自电容式侦测、第一次互电容式侦测与第二次互电容式侦测的过程中,可以先滤除或忽视相应于大范围的触碰相关感测资讯,以排除手掌的触碰。 | ||
搜索关键词: | 位置 侦测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种位置侦测的方法,其特征在于包括:提供包括多个感测器的一感测装置,上述感测器包括多个第一感测器与多个第二感测器,上述第一感测器与上述第二感测器交叠于多个叠点;以自电容式侦测依据上述第一感测器的信号判断出相应于至少一外部物件的至少一第一一维度位置;以及以互电容式侦测依据上述第二感测器的信号判断出相应于该至少一第一一维度位置的至少一第二一维度位置。
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