[发明专利]超硬磨具出露磨粒数量和磨粒出露高度的检测方法

摘要

一种超硬磨具出露磨粒数量和磨粒出露高度的检测方法，由计算机、显微镜和与显微镜相连的数码摄像头组成视频图像采集系统，超硬磨具经使用或开刃后，将超硬磨具磨削部位放置于显微镜下，由数码摄像头将图像转换成数码信息，连续采集不同部位的图像，通过计算机对图像进行存储；对采集的图像设置圆环采样区，对圆环采样区内的磨粒出露高度和出露磨粒数量进行分析。为产品质量检验和控制提供一种科学有效的快速的检验方法和手段，为产品质量的稳定和提高提供科学的依据。

主权项

超硬磨具出露磨粒数量和磨粒出露高度的检测方法，由计算机、显微镜和与显微镜相连的数码摄像头组成视频图像采集系统，采集图象并进行分析计算，其特征是：超硬磨具经使用或开刃后，将超硬磨具磨削部位放置于显微镜下，由数码摄像头将图像转换成数码信息，连续采集不同部位的图像，通过计算机对图像进行存储；对采集的图像设置圆环采样区，对圆环采样区内的磨粒出露高度和出露磨粒数量进行分析；其中对于磨粒出露高度的检测步骤为：将磨粒视为是圆球型，磨粒出露的部分视为球冠，出露高度相当于球冠的高，投影宽度相当于球冠底面直径，利用计算机标尺线段标记与出露部分的最大长度垂直的最大投影宽度，然后利用下述数学模型通过计算机计算得到磨粒出露高度，数学模型为 h = D 2 - ( D 2 ) 2 - ( B 2 ) 2 其中h‑代表磨粒出露高度，D‑代表磨料基本粒粒径上限尺寸，B‑代表磨粒出露部分最大投影宽度；其中对于单位面积出露磨粒数量的检测步骤为：设置至少一个圆环采样区，用计算机标记并记录圆环采样区内的出露磨粒数量和该圆环采样区的半径，单位面积出露磨粒数量等于圆环采样区内的出露磨粒数除以圆环采样区面积，然后利用数学模型通过计算机计算得到单位面积出露磨粒数量，数学模型为 Sn = N n × π × R 2 其中Sn‑代表单位面积(cm2)出露磨粒数量，N‑代表圆环采样区出露磨粒数量，n‑代表圆环采样区数量，π‑圆周率，R‑代表圆环采样区半径。