[发明专利]一种宇航用CPU单粒子效应试验方法

摘要

本发明公开了一种宇航用CPU单粒子效应试验方法，包括对单粒子现象较为敏感的区域：CPU中寄存器、内部Cache和运算逻辑单元进行单粒子效应测试，对寄存器的单粒子效应测试包括半静态测试和半动态测试。本发明通过系统地监测微处理器内部各模块的单粒子事件发生率，可以客观评价现代微处理器各个部分对单粒子效应的敏感程度，进一步为完整评估微处理器抗辐射能力提出参考依据，也为宇航工程中如何选用微处理器提出考核办法，同时克服了以往测试方法中由于接口要求极其复杂，操作系统的设计困难大，常规硬件开发成本很高以致不实用的缺点。

主权项

一种宇航用CPU单粒子效应试验方法，其特征在于，包括对CPU中寄存器、内部Cache和运算逻辑单元进行单粒子效应测试，所述寄存器的单粒子效应测试为半静态测试，包括如下步骤：在辐照试验前初始配置寄存器，在寄存器中写入值；在辐照过程中循环地读取并检测寄存器中的值，如果检测到数值发生翻转错误，则记录错误日志，并重新配置所述寄存器；重复执行前一步，直到统计出N次翻转错误或辐照达到累计规定的注量时停止测试，所述N为正整数。