[发明专利]ATP含量的检测方法及ATP适配体传感器有效

专利信息
申请号: 201010270997.4 申请日: 2010-09-03
公开(公告)号: CN101936945A 公开(公告)日: 2011-01-05
发明(设计)人: 徐国宝;刘中原 申请(专利权)人: 中国科学院长春应用化学研究所
主分类号: G01N27/48 分类号: G01N27/48;G01N27/327;C12Q1/68
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 魏晓波;逯长明
地址: 130000 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明实施例公开了一种ATP含量的检测方法及ATP适配体传感器,ATP含量的检测方法包括:提供表面固定有DNA单链的金电极,DNA单链序列如SEQ ID No.1所示;提供部分DNA双链,部分DNA双链中第一链3’末端如SEQ ID No.2所示,其5’末端与第二链互补;金电极浸入所述部分DNA双链与待测样品的混合液;以Ru(phen)32+、[Ru(bpy)2dppz]2+或[Ru(phen)2(dppz)]2+作为电化学发光探针对金电极进行ECL检测。本发明利用钌化合物配体较大的芳香环具有嵌入DNA双链结构的性能,实现了对ATP的检测,本发明提供的检测方法无需使用化学标记,方法简单。
搜索关键词: atp 含量 检测 方法 适配体 传感器
【主权项】:
一种ATP含量的检测方法,包括以下步骤:提供表面固定有DNA单链的金电极,所述DNA单链序列如SEQ ID No.1所示;提供部分DNA双链,所述部分DNA双链中第一链3’末端如SEQ ID No.2所示,其5’末端与第二链互补;所述金电极浸入所述部分DNA双链与待测样品的混合液;以Ru(phen)32+、[Ru(bpy)2dppz]2+或[Ru(phen)2(dppz)]2+作为电化学发光探针对所述金电极进行ECL检测。
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