[发明专利]纳米ZnO填充改性PEEK薄膜及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201010258955.9 申请日: 2010-08-20
公开(公告)号: CN102372898A 公开(公告)日: 2012-03-14
发明(设计)人: 刘楠;吴杰;马俊杰;李峰;王兴年;黄水萍;孙东岩 申请(专利权)人: 哈尔滨鑫达高分子材料工程中心有限责任公司
主分类号: C08L61/16 分类号: C08L61/16;C08K3/22;B29C47/12;B29C47/92;B29C55/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150066 黑龙江省哈*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明涉及一种新材料,具体为纳米ZnO填充改性PEEK薄膜,纳米ZnO填充改性PEEK薄膜由以下重量份组成:85%~99.9%的PEEK纯树脂和0.1~15%的纳米ZnO。本发明纳米ZnO填充改性PEEK薄膜的制备方法如下:(1)按重量份称取原材料;(2)将所有原料在室温下利用超高速混合机进行简单混合,使其混合均匀;(3)将混合好的原料加到螺杆挤出机中,在330~420℃的温度下经T型机头熔融挤出,制成平片状薄膜。(4)将制备的平片状薄膜在155~260℃纵向单轴拉伸,得到具有一定取向度的薄膜。即获得本发明的纳米ZnO填充PEEK薄膜。本发明纳米ZnO填充改性PEEK薄膜具有优良的耐高温、透光性及抗紫外线性能,除此之外还保持了PEEK薄膜优良的力学性能。
搜索关键词: 纳米 zno 填充 改性 peek 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
一种纳米ZnO填充改性PEEK薄膜,其特征在于有以下重量份原料组成:85~99.9%的PEEK和0.1~15%的纳米ZnO。
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