[发明专利]便携式电子装置测试系统无效
| 申请号： | 201010254347.0 | 申请日： | 2010-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN102375099A | 公开（公告）日： | 2012-03-14 |
| 发明（设计）人： | 李光臣 | 申请（专利权）人： | 深圳富泰宏精密工业有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种便携式电子装置测试系统，用于测试一便携式电子装置的多项性能，该便携式电子装置测试系统包括一时序控制卡、一组开关元件及一组测试设备，该组测试设备均连接至所述便携式电子装置，该组开关元件的一端分别与时序控制卡相连，另一端连接至相应的测试设备，且该开关元件在时序控制卡的控制下，按照时序导通，进而驱动相应的测试设备工作，使得该组测试设备按照所述时序对该便携式电子装置的多项性能分别进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 便携式 电子 装置 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种便携式电子装置测试系统，用于测试一便携式电子装置的多项性能，其特征在于：该便携式电子装置测试系统包括一时序控制卡、一组开关元件及一组测试设备，该组测试设备均连接至所述便携式电子装置，该组开关元件的一端分别与时序控制卡相连，另一端连接至相应的测试设备，且该开关元件在时序控制卡的控制下，按照时序导通，进而驱动相应的测试设备工作，使得该组测试设备按照所述时序对该便携式电子装置的多项性能分别进行检测。
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