[发明专利]检测装置、显示装置以及物体接近距离测量方法无效
| 申请号： | 201010248403.X | 申请日： | 2010-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN101996004A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | 高间大辅;关健太;今井雅人 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G06F3/042 | 分类号： | G06F3/042 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了检测装置、显示装置以及物体接近距离测量方法，该检测装置包括：光学传感器阵列，具有光接收各向异性；检测驱动部，被构造为驱动光学传感器阵列，获取被检测物体的图像，并且基于光接收各向异性生成不同的多个检测图像；以及高度检测部，被构造为接收输入至高度检测部的多个检测图像，并且在基于由于在与被检测物体的阴影和反射中的一个相对应的图像部分中光接收各向异性的差异所产生的位移的大小，来检测从光学传感器阵列的传感器光接收表面到被检测物体的距离(高度)，所述图像部分包括在输入的多个检测图像中。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 显示装置 以及 物体 接近 距离 测量方法 | ||
【主权项】：
一种检测装置，包括：光学传感器阵列，具有光接收各向异性；检测驱动部，被构造为驱动所述光学传感器阵列、获取被检测物体的图像，并且基于所述光接收各向异性而生成不同的多个检测图像；以及高度检测部，被构造为接收输入至所述高度检测部的所述多个检测图像，并且基于在与所述被检测物体的阴影和反射中的一个相对应的图像部分中由于所述光接收各向异性的差异所产生的位移的大小，来检测从所述光学传感器阵列的传感器光接收表面到所述被检测物体的距离(高度)，所述图像部分包括在输入的所述多个检测图像中。
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