[发明专利]一种原子层沉积超薄氧化铝薄膜的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201010241708.8 申请日: 2010-07-30
公开(公告)号: CN101921994A 公开(公告)日: 2010-12-22
发明(设计)人: 陈强;桑利军;李兴存 申请(专利权)人: 北京印刷学院
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C23C16/505
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 刘萍
地址: 102600 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种原子层沉积超薄氧化铝薄膜的装置及方法。本发明用双频即微波ECR加射频负偏压设备产生等离子体沉积氧化铝薄膜。用微波ECR加射频负偏压系统使工作气体产生等离子体,以三甲基铝(TMA)为单体,用TMA-Ar-O2-Ar的交替脉冲的方式用等离子体方法实现原子层沉积氧化铝薄膜,沉积温度为室温。由于采用等离子体作为活性基的产生方式,沉积可以在较低的环境温度下进行,且生长速率较热原子层沉积高,约为0.12nm/周期,制备的薄膜质量也较热原子层沉积高。所得的Al2O3薄膜可广泛地应用于微电子器件、电致发光器件、光波导器件以及抗腐蚀涂层等众多领域。
搜索关键词: 一种 原子 沉积 超薄 氧化铝 薄膜 装置 方法
【主权项】:
一种原子层沉积制备超薄氧化铝薄膜的装置,包括微波源(1)、石英窗口(2)、励磁线圈(3)、真空室(34)设有第一输气管(10)以及第二输气管(9);基片放置于真空室(34)内的基片台(7)上,热电偶(8)连接基片台(7)真空泵(5)连接将真空室(34),真空室(34)设有观察窗(4);其特征在于:基片台(7)连接有产生等离子体的射频电源(6)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京印刷学院,未经北京印刷学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010241708.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top