[发明专利]触摸屏校正方法及数字化弧焊电源的触摸屏人机界面系统

摘要

本发明涉及触摸屏校正技术领域，尤其涉及触摸屏校正方法及数字化弧焊电源的触摸屏人机界面系统。所述触摸屏校正方法先在系统主程序运行前沿电阻式触摸屏对角线进行采样，然后设定采样拟合方程式，采用最小二乘法完成对采样拟合方程式的线性拟合，并求取拟合参数，最后设定系统主程序运行后用于触摸校正的校正拟合方程式，代入拟合参数，完成触摸校正，从而控制LCD显示屏显示；这种利用最小二乘法完成线性拟合的触摸校正方法，具有速度快，定位准确，算法简单的特点，能很好地满足数字化弧焊电源的人机界面系统的要求。

主权项

触摸屏校正方法，其特征在于，它包括以下步骤：步骤A，系统主程序运行前，沿电阻式触摸屏对角线依次进行n次点触操作进行采样；主控芯片通过串口电路反馈获取n组触摸屏采样坐标值(xdatai，ydatai)，其中，xdatai表示第i次点触操作时对应的电阻式触摸屏的x轴采样坐标值，ydatai表示第i次点触操作时对应的电阻式触摸屏的y轴采样坐标值，i＝1，2……n；主控芯片根据n组触摸屏采样坐标值(xdatai，ydatai)映射出n组显示屏采样坐标值(xi，yi)，其中，xi表示第i次点触操作时根据xdatai映射出的LCD显示屏的x轴采样坐标值，yi表示第i次点触操作时根据ydatai映射出的LCD显示屏的y轴采样坐标值；步骤B，设定采样拟合方程式，采用最小二乘法完成对采样拟合方程式的线性拟合，求取拟合参数，具体如下：步骤B1，设定LCD显示屏的x轴采样坐标值xi的采样拟合方程式，以及LCD显示屏的y轴采样坐标值yi的采样拟合方程式：xi*＝a×xdatai+b，yi*＝c×ydatai+d，其中，xi*表示LCD显示屏的x轴采样坐标值xi的采样拟合值，yi*表示LCD显示屏的y轴采样坐标值yi的采样拟合值，a、b、c、d为拟合参数；步骤B2，根据最小二乘法原理，获取xi与xi*的残差值exi，exi＝xi xi*，使残差值exi的平方和Q为最小，即：使 Q = Σ i = 1 n e xi 2 = Σ i = 1 n ( x i - x i * ) 2 = Σ i = 1 n ( x i - a × x data i - b ) 2 为最小；获取yi与yi*的残差值fyi，fyi＝yi yi*，使残差值fyi的平方和G为最小，即：使 G = Σ i = 1 n f yi 2 = Σ i = 1 n ( y i - y i * ) 2 = Σ i = 1 n ( y i - c × y data i - d ) 2 为最小；步骤B3，使得Q为最小应满足以下两组偏导数等于零的方程组： ∂ Q ∂ a = 0 , ∂ Q ∂ b = 0 , 根据方程组求取拟合参数a值和b值；使得G为最小应满足以下两组偏导数等于零的方程组： ∂ G ∂ c = 0 , ∂ G ∂ d = 0 , 根据方程组求取拟合参数c值和d值；步骤C，运行系统主程序；设定系统主程序运行后用于触摸校正的校正拟合方程式：x*＝a ×xdata+b，y*＝c×ydata+d，将a值、b值、c值、d值相应代入上述校正拟合方程式，完成触摸校正，从而控制LCD显示屏显示；其中，xdata表示系统主程序运行后，在电阻式触摸屏点触操作时主控芯片通过串口电路反馈获取的对应的电阻式触摸屏的x轴坐标值；x*表示校正后的LCD显示屏的x轴坐标值；ydata表示系统主程序运行后，在电阻式触摸屏点触操作时主控芯片通过串口电路反馈获取的对应的电阻式触摸屏的y轴坐标值；y*表示校正后的LCD显示屏的y轴坐标值。