[发明专利]一种激光扫描仪的检校方法及检校系统有效
| 申请号： | 201010237272.5 | 申请日： | 2010-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN101923163A | 公开（公告）日： | 2010-12-22 |
| 发明（设计）人： | 宫辉力;王留召;钟若飞;刘先林 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;朱世定 |
| 地址： | 100037 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种激光扫描仪的检校方法和系统，其中在激光扫描仪工作区域内布设多个标志点；控制激光扫描仪沿垂直于扫描方向的轴线匀速升降，并对工作区域测量成像；用参考测距仪获取激光扫描仪扫描中心在升降前后的局部坐标；用参考测距仪获取标志点的局部坐标；识别激光扫描仪点云中的标志点及其仪器坐标，并提取标志点的扫描时间；根据所述标志点的扫描时间计算其时激光扫描仪中心的局部坐标，并用以求解仪器坐标系到局部坐标系之间的变换关系。从而克服了传统方式中人工参与控制靶杆移动带来的不稳定性，获得高精度的检校结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 扫描仪 校方 系统 | ||
【主权项】：
一种激光扫描仪的检校方法，其特征在于，包括以下步骤：S10，在激光扫描仪工作区域内布设多个标志点；S20，控制激光扫描仪沿垂直于扫描方向的轴线匀速升降，并对工作区域测量成像；S30，用参考测距仪获取激光扫描仪扫描中心在升降前后的局部坐标；S40，用参考测距仪获取标志点的局部坐标；S50，识别激光扫描仪点云中的标志点及其仪器坐标，并提取标志点的扫描时间；S60根据所述标志点的扫描时间计算其时激光扫描仪中心的局部坐标，并用以求解仪器坐标系到局部坐标系之间的变换关系。
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