[发明专利]物品检测设备及其检测方法有效
| 申请号： | 201010223342.1 | 申请日： | 2010-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN102313753A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 杨祎罡;李铁柱;张勤俭;张翼;金颖康;陈庆豪;李元景;刘以农 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 刘晓峰 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种物品检测设备，其包括X光机；X光机准直装置；透射探测器阵列；和至少一个散射探测器阵列，所述至少一个散射探测器阵列中的每个散射探测器阵列包括排成i行j列的多个相同的探测模块。其中，物品被X射线透射的透射截面被分成i行xj列个大小相同的分块区域，并且所述每个散射探测器阵列的ixj个探测模块与物品的透射截面的ixj个分块区域一一对应，用于探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子，并且根据探测到的电子对效应湮没光子计数与康普顿散射光子计数的比值来获得各个分块区域处的原子序数，从而形成物品的三维图像。另外，还提供一种用上述物品检测设备对物品进行检测的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 物品 检测 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种物品检测设备，包括：X光机；X光机准直装置，所述X光机准直装置用于将所述X光机产生的X射线成型为透射物品的扇面光束；透射探测器阵列，所述透射探测器阵列用于探测从物品透射过的X射线，以便形成物品的二维透射图像；和至少一个散射探测器阵列，所述至少一个散射探测器阵列中的每个散射探测器阵列包括排成i行j列的多个相同的探测模块；其中，物品被X射线透射的透射截面被分成i行xj列个大小相同的分块区域，并且所述每个散射探测器阵列的ixj个探测模块与物品的透射截面的ixj个分块区域一一对应，用于探测对应的分块区域处X射线产生的电子对效应湮没光子和康普顿散射光子，并且根据探测到的电子对效应湮没光子计数与康普顿散射光子计数的比值来获得各个分块区域处的原子序数，从而形成物品的三维图像，其中，i和j均为大于或等于2的正整数。
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