[发明专利]反馈控制扭摆弱力扫描探测仪有效

专利信息
申请号: 201010215084.2 申请日: 2010-07-02
公开(公告)号: CN101915858A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 周泽兵;罗俊;叶贤基;白彦峥;谭定银 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01Q10/04 分类号: G01Q10/04
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种反馈控制扭摆弱力扫描探测仪,利用悬丝悬挂于样品的中心构成扭摆,角度传感器实时测量由于样品和探针之间的弱力使得扭摆产生的扭转信息,并将该扭转信息送给控制器,控制器控制反馈执行机向扭摆施加反馈力,以平衡待测弱力产生的力矩。本发明实现了高精度和高分辨率的弱力扫描测量,整个装置结构简单,操作方便。
搜索关键词: 反馈 控制 扭摆 扫描 探测仪
【主权项】:
反馈控制扭摆弱力扫描探测仪,包括悬丝(1)、角度传感器(3)、控制器(4)、反馈执行机(5)和探针扫描机构,悬丝(1)悬挂于样品的中心构成扭摆,探针扫描机构的探针(7)靠近样品,角度传感器(3)实时测量由于样品和探针(7)之间的弱力使得扭摆产生的扭转信息,并将该扭转信息送给控制器(4),控制器依据扭转信息控制反馈执行机(5)向扭摆施加反馈力,以平衡待测弱力产生的力矩。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010215084.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top