[发明专利]测量光脉冲载波包络绝对相位的光电离装置无效
申请号: | 201010211112.3 | 申请日: | 2010-06-28 |
公开(公告)号: | CN101858789A | 公开(公告)日: | 2010-10-13 |
发明(设计)人: | 邓勇开;刘运全;龚旗煌 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00;G01J9/00 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 | 代理人: | 苏爱华 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种测量光脉冲载波包络绝对相位的光电离装置,该装置包括进气系统、真空腔、泵组和信号采集卡,真空腔与泵组相连,包括探测腔和反应腔,反应腔位于探测腔中心处,将光束聚焦到反应腔内,气体在光场的作用下被电离,光电离电子反向经反应腔两侧小孔射出,探测腔连有两个微通道板探测器,射出的光电离电子分别飞向各自的微通道板探测器,在微通道板探测器上形成脉冲电流,用信号采集卡记录上述脉冲电流信号,从而计算出超短激光脉冲的载波包络相位。本发明利用光电离的反方向对称性可测得载波包络相位,结构紧凑、灵敏度和精确度高。 | ||
搜索关键词: | 测量 脉冲 载波 包络 绝对 相位 电离 装置 | ||
【主权项】:
一种测量光脉冲载波包络绝对相位的光电离装置,其特征在于,包括进气系统、真空腔、泵组和信号采集卡,真空腔与泵组相连,包括探测腔(3)和反应腔(4),反应腔(4)位于探测腔(3)中心处,将光束聚焦到反应腔(4)内,气体在光场的作用下被电离,光电离电子反向经反应腔(4)两侧小孔射出,探测腔(3)连有两个微通道板探测器(6),射出的光电离电子分别飞向各自的微通道板探测器(6),在微通道板探测器(6)上形成脉冲电流,用信号采集卡(8)记录上述脉冲电流信号,从而计算出超短激光脉冲的载波包络相位。
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