[发明专利]一种沟槽式肖特基势垒二极管整流器件及制造方法有效

专利信息
申请号: 201010208588.1 申请日: 2010-06-23
公开(公告)号: CN101901808A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 刘伟;王凡;程义川 申请(专利权)人: 苏州硅能半导体科技股份有限公司
主分类号: H01L27/08 分类号: H01L27/08;H01L29/872;H01L29/06;H01L21/329;H01L21/762
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 马明渡
地址: 215123 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种沟槽式肖特基势垒二极管整流器件及制造方法,本发明在现有沟槽式肖特基二极管整流器件基础上,利用沟槽中导电多晶硅T形头的两肩和延伸段二氧化硅层来遮蔽沟槽两侧的凸台结构顶角,克服凸台顶角与上金属层接触产生尖端放电效应,引起反向漏电变大,反向阻断能力下降的问题。另外,采用导电多晶硅替代常规上金属层铝、钛等材料来填充沟槽,一方面觖决了沟槽填充留下空洞,影响器件可靠性的问题,另一方面为器件的沟槽开口宽度与深度比例提供了更为灵活的设计空间。
搜索关键词: 一种 沟槽 肖特基势垒二极管 整流 器件 制造 方法
【主权项】:
1.一种沟槽式肖特基势垒二极管整流器件,在俯视平面上,该器件的有源区由若干个肖特基势垒二极管单胞并联构成;在通过肖特基势垒二极管单胞中心的纵向截面上,每个肖特基势垒二极管单胞自下而上由下金属层(8)、N+单晶硅衬底(1)、N-外延层(2)和上金属层(6)叠加构成,其中在所述N-外延层(2)上部,横向间隔开设有沟槽(3),两个相邻沟槽(3)之间的N-外延层(2)区域形成N-单晶硅凸台结构(4),凸台结构(4)顶面与上金属层(6)接触形成肖特基势垒接触(7),上金属层(6)构成沟槽式肖特基势垒二极管整流器件的阳极,下金属层(8)与N+单晶硅衬底(1)接触形成欧姆接触,下金属层(8)构成沟槽式肖特基势垒二极管整流器件的阴极;其特征在于:沟槽(3)内表面均匀生长有二氧化硅层(5),且二氧化硅层(5)在沟槽(3)顶部开口处横向向两侧延伸形成延伸段,延伸段二氧化硅层(5)覆盖凸台结构(4)的顶角,沟槽(3)内填充导电多晶硅(11),导电多晶硅(11)的截面呈T形,T形头高于N-外延层(2)顶面,T形头的两肩横向宽度大于沟槽(3)的横向开口宽度,T形头的两肩搭在延伸段二氧化硅层(5)上,使T形头的两肩和延伸段二氧化硅层(5)遮蔽沟槽(3)两侧的凸台结构(4)顶角,T形头的顶面和侧面与上金属层(6)接触形成欧姆接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州硅能半导体科技股份有限公司,未经苏州硅能半导体科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010208588.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top