[发明专利]一种测试激励预处理的方法、系统及一种测试方法无效

专利信息
申请号: 201010156576.9 申请日: 2010-04-21
公开(公告)号: CN101840429A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 舒予 申请(专利权)人: 北京中星微电子有限公司
主分类号: G06F17/30 分类号: G06F17/30
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 苏培华
地址: 100083 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种测试激励预处理的方法、系统及一种测试方法,通过预置一个测试激励树状分类结构,对测试激励进行剖析,获取关键字信息,将所述关键字信息与所述树状分类结构结点匹配,建立该测试激励与树状分类结构的相应路径和结点的关联关系,通过遍历所有测试激励,建立各个测试激励与树状分类结构的相应路径和结点的关联关系,形成测试激励树状分类目录,实际应用中可以按照测试要求快速找到测试所需测试激励的路径,大大节省了寻找测试激励的时间,提高了人员的工作效率。
搜索关键词: 一种 测试 激励 预处理 方法 系统
【主权项】:
一种测试激励预处理的方法,其特征在于,包括:对测试激励进行剖析,获取关键字信息;将所述关键字信息与所预置的树状分类结构的结点进行匹配,建立该测试激励与树状分类结构的相应路径和结点的关联关系;遍历所有测试激励,以建立各个测试激励与树状分类结构的相应路径和结点的关联关系,形成测试激励树状分类目录。
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