[发明专利]薄膜半导体装置、电光装置和电子设备有效

专利信息
申请号: 201010133968.3 申请日: 2010-03-12
公开(公告)号: CN101834190A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 广岛安 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L23/528;H01L21/84;H01L21/768;G02F1/136
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 陈海红;刘瑞东
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 通过在各像素配置N型和P型的2个薄膜晶体管,接触孔的形成数从2个增至4个,薄膜晶体管的平面占有面积变大。本发明提供了薄膜半导体装置、电光装置和电子设备,其中将N型薄膜晶体管NT的漏极区域ND和P型薄膜晶体管PT的漏极区域PD部分相邻地配置,另外,将N型薄膜晶体管NT的源极区域NS和P型薄膜晶体管PT的源极区域PS部分相邻地配置。在漏极区域ND与漏极区域PD的相邻部分形成1个接触孔121,漏极区域ND和漏极区域PD同时与信号线12电气连接。在源极区域NS和源极区域PS的相邻部分形成1个接触孔291,源极区域NS和源极区域PS同时与电容电极29连接。
搜索关键词: 薄膜 半导体 装置 电光 电子设备
【主权项】:
一种薄膜半导体装置,其特征在于,在基板上具有沟道为N型的薄膜晶体管和沟道为P型的薄膜晶体管,上述N型的薄膜晶体管的源极区域和上述P型的薄膜晶体管的源极区域在至少部分区域中相邻配置,并且经由在上述部分区域形成的1个接触孔与第1电极连接,上述N型的薄膜晶体管的漏极区域和上述P型的薄膜晶体管的漏极区域在至少部分区域中相邻配置,并且经由在上述部分区域形成的1个接触孔与第2电极连接。
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