[发明专利]一种原位无损分析的质谱进样方法及其装置有效

专利信息
申请号: 201010129119.0 申请日: 2010-03-18
公开(公告)号: CN102192948A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 聂磊;徐国宾;杨芃原 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 包兆宜
地址: 20043*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属样品分析领域,涉及一种原位无损分析的质谱进样方法及其装置。本发明使用电加热使有机物挥发,不伤害样品,利用惰性气体将挥发物带入到质谱中。本发明装置由金属制成质谱探头,在探头上装有加热器与温度传感器作为加热装置和温度反馈装置,在探头上开有两个孔,加有两路管路,通过电线与电源和温度控制模块相连,通过计算机设定探头的温度,可以精确的控制温度。本发明装置简单,便于携带安装。
搜索关键词: 一种 原位 无损 分析 质谱进样 方法 及其 装置
【主权项】:
一种原位无损分析的质谱进样方法,其特征在于,其包括利用电加热,使用辅助气体将样品带入质谱中。
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