[发明专利]一种原位无损分析的质谱进样方法及其装置有效
申请号: | 201010129119.0 | 申请日: | 2010-03-18 |
公开(公告)号: | CN102192948A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 聂磊;徐国宾;杨芃原 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 包兆宜 |
地址: | 20043*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属样品分析领域,涉及一种原位无损分析的质谱进样方法及其装置。本发明使用电加热使有机物挥发,不伤害样品,利用惰性气体将挥发物带入到质谱中。本发明装置由金属制成质谱探头,在探头上装有加热器与温度传感器作为加热装置和温度反馈装置,在探头上开有两个孔,加有两路管路,通过电线与电源和温度控制模块相连,通过计算机设定探头的温度,可以精确的控制温度。本发明装置简单,便于携带安装。 | ||
搜索关键词: | 一种 原位 无损 分析 质谱进样 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
一种原位无损分析的质谱进样方法,其特征在于,其包括利用电加热,使用辅助气体将样品带入质谱中。
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