[发明专利]光插回损测试仪无效
| 申请号： | 201010112558.0 | 申请日： | 2010-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN102135468A | 公开（公告）日： | 2011-07-27 |
| 发明（设计）人： | 阮志光;陈春 | 申请（专利权）人： | 上海光家仪器仪表有限公司;上海光维通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 胡美强 |
| 地址： | 200233 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光插回损测试仪，包括：双波长激光器；所述的双波长激光器经光路与光偶合器连接；光偶合器经光路与法兰连接；所述法兰经光路与光偶合器相连；光偶合器经光路与第二探测器相连；所述的双波长激光器通过LD驱动电路与MCU相连；所述的第二探测器通过放大电路和模数转换电路与MCU相连；放大电路和模数转换电路还与第一探测器相连；本发明的有益效果是：运行速度快，工作性能强，集多表功能为一身，操作简单，测试结果误差小，结构简单，成本低，同时体积小便于携带，显示直观。 | ||
| 搜索关键词： | 光插回损 测试仪 | ||
【主权项】：
一种光插回损测试仪，其特征在于包括：双波长激光器；所述的双波长激光器经光路与光偶合器连接；光偶合器经光路与法兰连接；所述法兰经光路与光偶合器相连；光偶合器经光路与第二探测器相连；所述的双波长激光器通过LD驱动电路与MCU相连；所述的第二探测器通过放大电路和模数转换电路与MCU相连；放大电路和模数转换电路还与第一探测器相连。
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