[发明专利]基于分子排列取向的超短脉冲诊断方法无效
申请号: | 201010109439.X | 申请日: | 2010-02-12 |
公开(公告)号: | CN101799332A | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | 刘佳;吴健;陆培芬;杨旋;蔡华;曾和平 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 上海申蒙商标专利代理有限公司 31214 | 代理人: | 徐小蓉 |
地址: | 200062 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于超快激光科学与精密测量技术领域,具体指的是一种基于分子排列取向的用于测量超短脉冲振幅和相位的方法。该方法利用一束激光脉冲实现气体分子的排列取向,并利用此分子排列取向信号作为快门脉冲,基于分子排列取向的弱光偏振探测方法,由计算机精确控制所述激光脉冲和待测光脉冲的时间延迟,测量不同时间延时下待测激光脉冲经过所述排列取向的气体分子的透射二维图形,进而获得待测激光脉冲的振幅和相位和频率特性。本发明的优点是不需要使用非线性晶体,一方面节省了成本,也使得这种方法不需要考虑非线性过程中需要满足的相位匹配条件、波长匹配条件及匹配光强等限制性因素。 | ||
搜索关键词: | 基于 分子 排列 取向 超短 脉冲 诊断 方法 | ||
【主权项】:
一种基于分子排列取向的超短脉冲诊断方法,其特征在于本方法利用一束激光脉冲实现气体分子的排列取向,并利用所述分子排列取向信号作为快门脉冲,基于分子排列取向的弱光偏振探测方法,由计算机精确控制所述激光脉冲和待测光脉冲的时间延迟,测量不同时间延时下待测激光脉冲经过所述排列取向的气体分子的透射二维图形,进而获得待测激光脉冲的振幅和相位和频率特性。
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