[发明专利]渐开线齿轮齿廓测量方法无效
| 申请号： | 200980155156.4 | 申请日： | 2009-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN102216726A | 公开（公告）日： | 2011-10-12 |
| 发明（设计）人： | 勇崎正年 | 申请（专利权）人： | 株式会社东京技术;勇崎正年 |
| 主分类号： | G01B5/20 | 分类号： | G01B5/20;G01B21/20 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 林炜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提出一种渐开线齿廓测量的新方法，它不同于基圆法，并能在不增加齿廓测量仪尺寸大小和不增加仪器重心位移量的状态下，对超大齿轮进行测量。通过对于在被测齿轮绕自身轴线回转时对θ轴的联动控制，对测头相对于齿轮轴线移动的X轴的联动控制，和对测头在垂直于X轴的Y轴上运动的联动控制，从而使测头沿着一条作用线运动来实现对渐开线齿廓的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 渐开线 齿轮 测量方法 | ||
【主权项】：
一种渐开线齿轮齿廓的测量方法，其测头与被测齿轮的齿面接触并沿其运动，以便测量垂直于齿轮轴线平面内的齿廓(齿形)；该方法表述如下：通过对被测齿轮绕自身轴线回转的θ轴的联动控制，测头朝接近或离开齿轮轴线方向运动的X轴的联动控制，以及测头在垂直于X轴的Y轴的联动控制来实现齿廓测量。
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