[发明专利]检测集成芯片及应用方法无效
| 申请号： | 200980144380.3 | 申请日： | 2009-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN102239005A | 公开（公告）日： | 2011-11-09 |
| 发明（设计）人： | 王战会;陈坦 | 申请（专利权）人： | 天津微纳芯科技有限公司 |
| 主分类号： | B01L3/00 | 分类号： | B01L3/00;G01N35/00 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 张明;廉红果 |
| 地址： | 300193 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 公开了一种检测集成芯片及应用方法。该芯片包括上下二层，所述的芯片上层(1)与下层(2)相连。所述的芯片下层设有一组槽(21，22，23，24，25，26，27)及连接各槽间的微流道(28，29)、微反射面(210)和排气孔(211)。该芯片可以自动化完成样品溶液的前处理、定量输送、反应和检测。该芯片适用于生物分析、医学检测、环境污染物监测以及食品、药品安全等分析检测领域。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 集成 芯片 应用 方法 | ||
【主权项】：
PCT国内申请，权利要求书已公开。
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