[发明专利]适于对高浓度气体进行光谱分析的设备

摘要

本发明包括一种适于进行光谱分析的设备(“A”)，所述设备具有：适用于电磁辐射(“S”)的传送装置(10)；采用腔的形式并用作测量池的有限空间(11)，其意在能够限定光学测量距离(T”)；从所述传送装置(10)通过所述光学测量距离(“L”)的所述电磁辐射(“S”、“Sa1”、“Sa2”)的检测装置(12)；以及执行光谱分析并至少连接到所述检测装置(12)的单元(13)。电磁辐射的所述检测装置(12)以光电方式适于对预期落入一光谱范围内的电磁辐射(“Sb”、4a)具有灵敏性，所选取的该光谱范围的波长分量或谱元将成为执行光谱分析的单元(13)中的分析对象，以便在该单元中通过计算确定谱元的相对辐射强度。所述电磁辐射(“S”、“SaT1、“Sa2”)适于通过存在气体样品(G)的空间(11)。空间(11)内的所述光学测量距离(“L”)被选取为很短，至少短于15毫米，因此样品气体(G)必须相对于被评估的气体部分而呈现出高浓度。

主权项

一种适于对高浓度气体进行光谱分析的设备(“A”)，具有：适用于电磁辐射(“S”、“Sa”、“Sb”)的光传送装置(10)；采用腔的形式的空间(11)，用作适用于气体的测量池，并且意在能够限定光学测量距离(“L”)；从所述光传送装置(10)经过所述光学测量距离的所述电磁辐射的检测装置(12)或探测器(3b、3b’)；以及执行光谱分析并至少连接到所述检测装置(12)的单元(13)，其中检测电磁辐射的所述装置(12)以光电方式适于对预期落入一光谱区域内的电磁辐射具有灵敏性，所选取的所述光谱区域的波长分量或谱元通过光学滤波器(14)成为执行光谱分析的单元(13)中的分析对象，以便在该单元中借助于计算来确定所述谱元的辐射强度，其特征在于，所述光传送装置(10)与所述光检测装置(12)或探测器(3b、3b’)之间的所述测量距离的长度(“L”)被选取为短至例如小于15毫米，并且透过圆盘(15)中的缝或孔(15a)等的光线适于仅使或至少主要使从所述传送装置(10)直接导向所述检测装置(12)或探测器(3b、3b’)的光线(“Sa”、“Sa1”)通过。