[发明专利]测试模块及测试方法有效

专利信息
申请号: 200980135447.7 申请日: 2009-09-10
公开(公告)号: CN102150056A 公开(公告)日: 2011-08-10
发明(设计)人: 基石优;秋田德则 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/3183 分类号: G01R31/3183;G06F11/22
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供测试模块,包括产生伪随机数图案的随机数产生部,随机数产生部,包括,控制部,按照存储于命令存储器的控制命令生成寄存器选择信号;多项式设定寄存器,是根据寄存器选择信号选择的多个寄存器,分别存储多项式数据;初始值设定寄存器,是根据寄存器选择信号选择的多个寄存器,分别存储初始值;随机数生成移位寄存器,从被选择的初始值设定寄存器装载初始值,根据所选择的多项式设定寄存器中存储的多项式数据,依次生成伪随机数图案。
搜索关键词: 测试 模块 方法
【主权项】:
一种测试模块,是测试被测试设备的测试模块,包括:存储测试图案的图案存储器;产生伪随机数图案的随机数产生部;将所述测试图案或所述伪随机数图案中的任何一个作为驱动器图案选择的图案选择部;按照所述驱动器图案生成提供给所述被测试设备的信号的波形的波形生成部;所述随机数产生部,包括:控制部,按照存储于命令存储器的控制命令,生成寄存器选择信号;多项式设定寄存器,是根据所述寄存器选择信号而选择的多个寄存器,分别存储多项式数据;初始值设定寄存器,是根据所述寄存器选择信号而选择的多个寄存器,分别存储初始值;随机数生成移位寄存器,从被选择的所述初始值设定寄存器装载初始值,根据被选择的所述多项式设定寄存器中存储的多项式数据,依次生成所述伪随机数图案。
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