[发明专利]用于离子轴向空间分布聚焦的方法和设备有效
| 申请号： | 200980129058.3 | 申请日： | 2009-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN102105961A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 安德鲁·鲍德勒 | 申请（专利权）人： | 奎托斯分析有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/06 | 分类号： | H01J49/06 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 英国曼*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 本发明提供了一种质谱仪，其包括：用于产生前体离子的离子源；用于从前体离子中产生碎片离子的离子碎裂装置；用于聚焦离子的动能分布的反射器；和离子探测器，其中质谱仪还包括：轴向空间分布聚焦装置，其在应用中在碎裂装置之后且在反射器之前对离子产生作用，所述轴向空间分布聚焦装置可用于降低离子在质谱仪的离子光轴方向上的空间分布。适当地，轴向空间分布聚焦装置包括具有两个电极(52、54)的单元，所述电极可以是孔或者高穿透率栅格。通过当目标前体离子(56、58)刚刚进入脉冲发生器(50)时向第一电极(52)施加高电压脉冲(60)而产生脉冲静电场。在此期间第二电极(54)保持在0V。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 离子 轴向 空间 分布 聚焦 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种质谱仪包括：用于产生前体离子的离子源；用于从前体离子中产生碎片离子的离子碎裂装置；用于聚焦离子的动能分布的反射器；和离子探测器；其中，所述质谱仪还包括：轴向空间分布聚焦装置，其在应用中在离子碎裂装置之后且在反射器之前作用于离子，轴向空间分布聚焦装置可用于降低离子在所述质谱仪的离子光轴方向上的空间分布。
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