[发明专利]气体检测设备无效
| 申请号: | 200980126719.7 | 申请日: | 2009-07-07 |
| 公开(公告)号: | CN102089645A | 公开(公告)日: | 2011-06-08 |
| 发明(设计)人: | M.韩;A.克劳斯 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01N21/39;G01J3/433;G08B17/103;F23N5/00;H01S5/183;H01S5/187;G08B17/117 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周红力;刘鹏 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | 本发明涉及一种包括激光传感器单元(100)的气体检测设备(200)。激光传感器单元(100)适于发射激光,该激光适于由要检测的气体(50)至少部分地吸收。激光传感器单元(100)还适于基于激光传感器单元(100)的有源腔(10)内的自混合干涉(SMI)产生测量数据。该测量数据受要检测的气体对激光的吸收的影响,并且提供分析电路(120)以便基于从激光传感器单元(100)接收的测量数据确定要检测的气体(50)的存在性和/或浓度。 | ||
| 搜索关键词: | 气体 检测 设备 | ||
【主权项】:
一种气体检测设备(200),包括至少一个激光传感器单元(100)、驱动电路(110)和分析电路(120),‑ 激光传感器单元包括至少一个有源腔(10)、电极(40)、至少一个光学反馈结构(30)、检测体积和至少一个检测器(20),有源腔(10)包括夹在第一反射结构(4)与第二反射结构(2)之间的有源层(3),第一反射结构(4)具有比第二反射结构(2)更高的反射率,电极(40)适于将电流注入有源层(3),检测器(20)耦合到有源腔(10),检测体积设置在第二反射结构(2)与光学反馈结构(30)之间,并且检测体积适于包含要检测的气体(50),‑ 驱动电路(110)电耦合到电极(40)并且驱动电路(110)适于电泵浦有源腔(10),使得第一光经由第二反射结构(2)发射到检测体积内并且第一光的至少一部分适于由要检测的气体(50)的吸收带吸收,‑ 光学反馈结构(30)被设置成散射或反射通过检测体积的第一光(7),使得它重新进入有源腔(10),‑ 重新进入有源腔(10)的散射或反射的第一光(8)为第二光,该第二光根据在检测体积中要检测的气体(50)对第一光(7,8)的吸收而造成有源腔(10)中的激光功率的变化,‑ 检测器(20)适于产生与有源腔(10)中的激光功率有关的测量数据,‑ 检测器(20)耦合到分析电路(120)并且分析电路(120)适于基于从检测器(20)接收的测量数据确定要检测的气体(50)的存在性和/或浓度。
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