[发明专利]使用折射和反射结构的具有角分辨率的谱检测器无效
| 申请号： | 200980122595.5 | 申请日： | 2009-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN102066968A | 公开（公告）日： | 2011-05-18 |
| 发明（设计）人： | T·范博梅尔;E·J·梅伊杰尔;R·A·M·希克梅特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S3/784 | 分类号： | G01S3/784 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华;黄倩 |
| 地址： | 荷兰艾恩*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种检测器，用于接收照射在接收点处的光，并且用于针对多个入射角测量至少一个光特性。该检测器包括多个光传感器，其中每一个与接受区间(其限定光束必须到达光传感器的入射角)相关联，并且至少两个接受区间彼此不同。检测器还包括光导体，用于仅在光束的入射角属于与特定光传感器相关联的接受区间的情况下，将光束从接收点传导至该特定光传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 折射 反射 结构 有角 分辨率 检测器 | ||
【主权项】：
一种检测器(100)，用于接收照射在接收点(101)处的光并且用于针对多个入射角测量至少一个光特性，所述检测器包括：多个光传感器(120)，其中每一个光传感器与一个接受区间相关联，所述接受区间限定光束必须到达所述光传感器的入射角，至少两个接受区间彼此不同；以及光导体(110)，用于仅在光束的入射角属于与特定光传感器相关联的接受区间的情况下，将光束从所述接收点传导至所述特定光传感器。
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