[发明专利]于测试作业模式期间用于保障集成电路上数字信息安全的方法与设备无效
| 申请号： | 200980120418.3 | 申请日： | 2009-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN102066963A | 公开（公告）日： | 2011-05-18 |
| 发明（设计）人： | S·M·加德尔拉波;B·杜;Z·S·赛义德;D·福利 | 申请（专利权）人： | ATI技术无限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G11C29/52 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人： | 程伟;胡冰 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 本发明的实施例保护集成电路免于可测试性设计(DFT)或其它测试模式所造成的冲击。无论储存在寄存器或者栓锁、RAM中的暂时性机密、及/或储存在ROM及/或PROM中的永久机密皆可获得保障。用于保障集成电路上信息安全的一个实施例包含进入测试模式，并且在接收测试模式命令之前重置各个寄存器，以响应进入该测试模式作业。集成电路实施例包含：测试控制逻辑电路，是用以将该集成电路设置进入测试模式并且当在该测试模式中时控制该集成电路；一组寄存器；以及功能重置控制器，用以连接至该测试控制逻辑电路以及该组寄存器，用以接收来自该测试控制逻辑电路的重置命令并且将该重置命令提供至该组寄存器，以响应进入该测试模式的命令。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 作业 模式 期间 用于 保障 集成电路 数字 信息 安全 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种保障集成电路上信息安全的方法，该方法包括：进入测试模式作业；以及响应进入该测试模式作业并且在接收测试模式命令之前，重置一组寄存器的各个寄存器。
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