[发明专利]氮化物半导体的晶体生长方法和半导体装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 200980115958.2 申请日: 2009-11-26
公开(公告)号: CN102067286A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 井上彰;加藤亮;藤金正树;横川俊哉 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;C23C16/34;H01L33/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种氮化物半导体层的形成方法,其包括步骤(S1),其将至少在上面具有m面氮化物半导体晶体的基板配置于MOCVD装置的反应室内;升温步骤(S2),其加热反应室内的基板,使基板的温度上升;和生长步骤(S3),其在基板上使氮化物半导体层生长。在升温步骤(S2)中,向反应室内提供氮原料气体和III族元素原料气体,可以形成即使厚度为400nm也具有平滑的表面的m面氮化物半导体晶体,也可以大幅缩短其形成时间。
搜索关键词: 氮化物 半导体 晶体生长 方法 装置 制造
【主权项】:
一种氮化物半导体层的形成方法,是通过有机金属气相生长法来使氮化物半导体层生长的氮化物半导体层的形成方法,其包括:步骤(S1),其将至少在上面具有表面为m面的氮化物半导体晶体的基板配置于反应室内;升温步骤(S2),其加热所述反应室内的所述基板,使所述基板的温度上升;和生长步骤(S3),其在所述升温步骤(S2)之后,在所述基板上使氮化物半导体层生长,所述升温步骤(S2)包括向所述反应室内提供氮原料气体和III族元素原料气体的步骤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200980115958.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top