[发明专利]探测粒子的探测装置有效
| 申请号： | 200980112761.3 | 申请日： | 2009-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN101999075A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | J·H·尼乌文赫伊斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543;B01L3/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 蔡洪贵 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用以探测粒子(25)的探测装置，其中，探测装置包括探测表面(30)用以探测该探测表面上的粒子，且其中，探测表面(30)包括用以限制粒子(25)运动的突出部(40)。优选地，突出部(40)将探测表面分为被突出部围绕的区域(41)，以当粒子在探测表面(30)上横向运动时，使位于探测表面(30)上的粒子的颗粒保持于各自的区域内。 | ||
| 搜索关键词： | 探测 粒子 装置 | ||
【主权项】：
一种用以探测粒子(25)的探测装置(1)，其特征在于，所述探测装置(1)包括探测表面(30)，用以探测所述探测表面上的粒子，且其中，所述探测表面(30)包括用以限制所述粒子(25)运动的突出部(40)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司，未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980112761.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
