[发明专利]用于光学扫描设备的二维辐射斑阵列无效
申请号: | 200980110121.9 | 申请日: | 2009-03-16 |
公开(公告)号: | CN101978303A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | S·斯托林加 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G02B26/12 | 分类号: | G02B26/12;G02B21/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: |
本发明涉及一种光学扫描设备(10),其包括:斑生成器(20),用于在格点Pmn=mT1+nT2(m=1至L1,n=1至L2)处生成二维辐射斑阵列(8),其中,T1是第一格矢量,T2是第二格矢量;以及扫描装置,用于沿扫描方向穿过辐射斑阵列扫描样品(26),使得辐射斑相对于样品示踪出基本上等距的线(81、82、83)。根据本发明,扫描方向和第一格矢量T1之间的角γ最多与扫描方向和第二格矢量T2之间的角一样大,并且比L1/L2小于0.6。根据优选的实施例,L1与Λ的不同小于1.0,或L1等于Λ,容差为10%,A由 |
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搜索关键词: | 用于 光学 扫描 设备 二维 辐射 阵列 | ||
【主权项】:
一种光学扫描设备(10),包括:‑斑生成器(20),其用于在格点Pmn=mT1+nT2(m=1至L1,n=1至L2)处生成二维辐射斑阵列(8),其中,T1是第一格矢量,T2是第二格矢量;以及‑扫描装置,其用于沿扫描方向穿过所述辐射斑阵列扫描样品(26),使得所述辐射斑相对于所述样品示踪出基本上等距的线(81、82、83),其中,所述扫描方向和所述第一格矢量T1之间的角γ最多与所述扫描方向和所述第二格矢量T2之间的角一样大,并且比L1/L2小于0.6。
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