[发明专利]光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法有效
| 申请号： | 200980108296.6 | 申请日： | 2009-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN101965605A | 公开（公告）日： | 2011-02-02 |
| 发明（设计）人： | 北田和生;由良友和;小盐智;中园拓矢 | 申请（专利权）人： | 日东电工株式会社 |
| 主分类号： | G09F9/00 | 分类号： | G09F9/00;G02F1/13;G02F1/1335 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李贵亮 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够更好地进行缺点检查的光学显示装置制造系统及光学显示装置制造方法。根据由检查装置(30)进行的对被贴合了光学薄膜的光学显示装置的检查结果，修正由缺点检查装置(14、24)进行的被贴合到光学显示单元之前的光学薄膜的检查中的缺点的检测条件，将包含由缺点检查装置(14、24)根据该修正后的检测条件检测出的缺点的光学薄膜排除。由此，由于能够按照之后由检查装置(30)进行的缺点检查的基准，调整由缺点检查装置(14、24)进行的缺点检查的基准，所以可以更好地进行缺点检查，能够提高光学薄膜的成品率。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 显示装置 制造 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种光学显示装置制造系统，用于通过从光学薄膜被卷绕成辊状而形成的辊状卷料送出所述光学薄膜，将其切断为规定尺寸并贴合到光学显示单元上，来制造光学显示装置，其特征在于，具备：对贴合到所述光学显示单元之前的所述光学薄膜进行检查，来检测缺点的光学薄膜检查机构；对贴合了所述光学薄膜的所述光学显示装置进行检查，来检测缺点的光学显示装置检查机构；根据所述光学显示装置检查机构的检查结果，修正所述光学薄膜检查机构对所述光学薄膜检查缺点的检测条件的检测条件修正机构；和根据修正后的所述检测条件，将包含由所述光学薄膜检查机构检测到的缺点的光学薄膜排除的排除机构。
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