[发明专利]真空内保护衬层无效

专利信息
申请号: 200980102279.1 申请日: 2009-01-16
公开(公告)号: CN101971286A 公开(公告)日: 2011-02-09
发明(设计)人: 留德米拉·史东;朱利安·G·布雷克;岱尔·K·史东;罗·S·希瑞史盖 申请(专利权)人: 瓦里安半导体设备公司
主分类号: H01J37/30 分类号: H01J37/30;H01L21/26
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 美国麻*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 本设备包括配置于真空室的界面的衬层。一构件位于真空式内以定义该界面。该衬层配置成用以保护工件免受污染,或是用以避免因原子或离子植入界面所引起的界面产生气泡。在一些实施例中,衬层可由真空室中的界面丢弃以及移除并以新的衬层取代。在一些实施例中,此衬层可为具有粗糙面的聚合物,以碳为基质或是由纳米管构成。
搜索关键词: 真空 保护
【主权项】:
一种设备,包括:一离子产生器,用以产生多个离子;一真空室;一构件,位于该真空室内并定义一界面;一工件;一台板,用以支撑该工件,以使该工件接受该些离子处理;以及一衬层,配置于该界面上,以保护该工件免受污染,其中该衬层具有一粗糙面,且该衬层由包括卡普通、聚醚醚酮、聚四氟乙烯、全氟烷氧、全氟烷基乙烯基醚、聚对二甲苯、维斯佩及优皮勒斯的组群中所选择。
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