[发明专利]电磁波/粒子束分光方法和电磁波/粒子束分光装置有效
| 申请号： | 200980000345.4 | 申请日： | 2009-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN101802646A | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | 武藤贞嗣 | 申请（专利权）人： | 大学共同利用机关法人自然科学研究机构 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 | 代理人： | 段迎春 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种分光功能不易变劣的电磁波/粒子束分光装置，其对电磁噪声、振动、大的响声、热量及所关心的特定粒子束以外的粒子束、电磁波之外的粒子束、由电磁波产生的电子噪声、机械破坏、以及固体组成原子的反冲具有耐受性，并且比传统的能量分解技术对检测装置的辐射暴露具有更强的耐受性。分光装置10包括拉普拉斯变换过滤器11，对入射光谱强度进行拉普拉斯变换；检测元件15，检测入射光谱的透射强度；以及运算装置17，对检测到的入射光谱的透射强度进行逆拉普拉斯变换，从而计算进入拉普拉斯变换过滤器11的入射光谱的入射强度。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁波 粒子束 分光 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电磁波/粒子束分光方法，其特征在于：第一步骤，令入射光谱进入拉普拉斯变换过滤器以对所述入射光谱的强度进行拉普拉斯变换；第二步骤，接收通过所述拉普拉斯变换过滤器而经拉普拉斯变换的入射光谱，从而利用检测装置检测所述入射光谱的透射强度；以及第三步骤，对所述检测到的光谱透射强度进行逆拉普拉斯变换，从而计算进入所述拉普拉斯变换过滤器的所述入射光谱的强度。
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