[实用新型]一种定量测试力电性能与显微结构的传感器无效
申请号: | 200920269907.2 | 申请日: | 2009-10-30 |
公开(公告)号: | CN201522985U | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 韩晓东;刘攀;岳永海;张泽 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | H01J37/02 | 分类号: | H01J37/02;H01J37/26;G01N13/00;G01L1/22;H01J9/00;B81B7/02;B81C1/00;B81C99/00 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种定量测量力电性能与显微结构的传感器。该传感器为一个中空的结构,自下而上由阻挡层、硅衬底、外延层α和绝缘层组成;该结构中间部分的阻挡层和部分硅衬底被刻蚀,剩余的周边部分包括阻挡层、硅衬底、外延层α和绝缘层四层,称为基础部分;中间部分继续被刻蚀穿形成压敏电阻悬臂梁和悬空结构;传感器的基础部分放置双金属片;所述的悬空结构,位于两个压敏电阻悬臂梁之间,悬空结构与其中一个压敏电阻悬臂梁不接触,悬空结构的一条边与这个悬臂梁的边缘平行;所述的悬臂梁和基础部分的上方有一个惠斯通电桥电路;本实用新型可以在原子点阵分辨率下,原位记录低维纳米材料力电性能和显微结构变化的相关性。 | ||
搜索关键词: | 一种 定量 测试 性能 显微结构 传感器 | ||
【主权项】:
定量测试力电性能与显微结构的传感器,其特征在于:一个中空的结构,该结构自下而上由阻挡层、硅衬底、外延层α和绝缘层组成;该结构中间部分的阻挡层和部分硅衬底被刻蚀,剩余的周边部分包括阻挡层、硅衬底、外延层α和绝缘层四层,称为基础部分;中间部分继续被刻蚀穿形成压敏电阻悬臂梁和悬空结构;传感器的基础部分上表面向下刻蚀出一个用于放置双金属片的凹槽,凹槽内放置双金属片后,双金属片的上表面与压敏电阻悬臂梁和悬空结构的上表面处于同一水平面上;所述的悬空结构,位于两个压敏电阻悬臂梁之间,悬空结构与其中一个压敏电阻悬臂梁不接触,悬空结构的一条边与这个悬臂梁的边缘平行,且悬空结构的这条边上有一个突出来的部分,突出部分与双金属片不接触;悬空结构的另一条边与压敏电阻悬臂梁接触;悬空结构通过两侧的支撑梁连接在基础部分上;所述的悬臂梁和基础部分的上方有一个惠斯通电桥电路;所述的惠斯通电桥电路,由四个完全相同的压敏电阻组成,位于外延层α和绝缘层之间;其中两个压敏电阻位于基础部分,作为固定电阻;另外两个压敏电阻位于悬臂梁上方,作为可变电阻。
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