[实用新型]一种全视场使用的共轴三反射光学系统无效
申请号: | 200920245134.4 | 申请日: | 2009-11-04 |
公开(公告)号: | CN201681207U | 公开(公告)日: | 2010-12-22 |
发明(设计)人: | 李旭阳;李英才;马臻;易红伟;贺天兵 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00;G02B17/06;G02B7/182 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 商宇科;李东京 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种全视场使用的共轴三反射光学系统,该光学系统像面上的CCD如下排布:1)根据光学系统焦距的f,视场角2w,线遮拦系统系数α,计算出光学系统的像面范围、渐晕区的范围和无渐晕区的范围;2)根据渐晕区的直径范围D1计算出所需CCD的长度,假设单条CCD的有效像元长度为d,则应使nd≥2r(n=1,3,5,....),同时,所述CCD沿像面的径向排布在非渐晕区,则使参与推扫成像的CCD全部处于无渐晕区内。本实用新型通过对折轴反射镜的形状的设计以及各种反射镜的布置,减小了装配的难度,完全消除了光学系统的像差;充分利用了光学系统的视场扩大了相机的地面覆盖宽度。 | ||
搜索关键词: | 一种 视场 使用 共轴三 反射 光学系统 | ||
【主权项】:
一种全视场使用的共轴三反射光学系统,其特征在于:该光学系统像面上的CCD如下排布:1)根据光学系统焦距的f,视场角2w,线遮拦系统系数α,计算出光学系统的像面范围、渐晕区的范围和无渐晕区的范围:由公式(1)计算出光学系统的像高H:H=f×tanw (1)像面范围为D:D=πH2 (2)由公式(3)计算出渐晕区的半径r:r=H×α (3)渐晕区范围为:D1=πr2 (4)无渐晕区的范围为:D0=D D1=π(H2 r2); (5)2)根据渐晕区的直径范围D1计算出所需CCD的长度,假设单条CCD的有效像元长度为d,则应使nd≥2r(n=1,3,5,....),同时,所述CCD沿像面的径向排布在非渐晕区,则使参与推扫成像的CCD全部处于无渐晕区内。
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