[实用新型]光学控制装置和热扩散率测量装置无效
| 申请号: | 200920220398.4 | 申请日: | 2009-10-30 |
| 公开(公告)号: | CN201819892U | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
| 发明(设计)人: | 孙建平;刘建庆 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院;河北大学 |
| 主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 100013*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本实用新型涉及一种光学控制装置,其安装在热扩散率测量装置上,包括光学部件组、光束质量分析仪和能量计,所述光学部件组具有第一分光器件、第二分光器件、第一光学片和第二光学片,能量计和光束质量分析仪对激光器的输出能量和光斑质量进行实时监测,减小由光斑非均匀性加热带来的测量误差,其中第一光学片和第二光学片为可更换部件,采用不同衰减系数的第一和第二光学片的组合,获得了一系列不同能量的高均匀性光斑,提高了材料热扩散率测量的准确定性。 | ||
| 搜索关键词: | 光学 控制 装置 扩散 测量 | ||
【主权项】:
一种光学控制装置,用于对激光器发射的光束进行控制,其包括光学部件组、光束质量分析仪和能量计,从激光器发出的激光经所述光学部件组分光入射到所述光束质量分析仪和能量计,所述光学部件组依次具有第一分光器件、第一光学片、第二光学片和第二分光器件,其特征在于:所述第一分光器件用于将从激光器发出的激光分光形成第一光束和第二光束,所述光束质量分析仪用于对第一光束进行分析,所述第一、第二光学片用于对第二光束进行激光能量衰减,所述第二分光器件将能量衰减后的第二光束分光形成第三和第四光束,其中第三光束进入能量计,第四光束沿第二光束方向出射。
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