[实用新型]一种高电压介质损耗测试装置有效

专利信息
申请号: 200920209286.9 申请日: 2009-09-07
公开(公告)号: CN201555905U 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 周鸿伟;徐志坚;孙庆龙;包勇强;张黎琳;卢静文;王娟 申请(专利权)人: 上海市电力公司超高压输变电公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 上海三和万国知识产权代理事务所 31230 代理人: 侯佳猷;陈伟勇
地址: 200063 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种高电压介质损耗(tgδ)测试装置,包括高电压介质损耗(tgδ)测试仪(集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥)、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述一体化电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电容器并联于被试品高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。所述装置采用谐振方式升压,由此,可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量不会太大,便于在现场试验使用。使用本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置可有效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况。
搜索关键词: 一种 电压 介质 损耗 测试 装置
【主权项】:
一种高电压介质损耗测试装置,包括高电压介质损耗测试仪、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述测试仪形成集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥,所述一体化电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电容器并联于被试品高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。
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