[实用新型]一种激光回馈法光学材料应力测量装置在审
| 申请号： | 200920181743.8 | 申请日： | 2009-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN201780263U | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 福建福晶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/23 | 分类号： | G01N21/23;G01N21/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 350002 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及了一种激光回馈法光学材料应力测量装置，它利用双折射外腔回馈可以导致激光偏振跳变的基本原理，提出了一种新的光学材料内应力测量方法，在激光回馈条件下，两个偏振态在一个激光强度调制周期内的占空比与外腔光学材料的应力双折射具有线性关系。通过测量两个偏振态在一个激光强度调制周期内的占空比就可以精确地知道外腔光学材料的应力双折射，从而通过测量双折射的大小间接求出应力值。本实用新型中的632.8nm的He-Ne激光器安装在一个可旋转电动支架上，电动支架旋转方向为绕激光轴线方向，使得测量更加方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 回馈 光学材料 应力 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种激光回馈法光学材料应力测量装置，包括激光回馈光学材料应力测量装置，半内腔的632.8nm的He Ne激光器，其特征在于：632.8nm的He Ne激光器安装在一个可旋转电动支架上，电动支架旋转方向为绕激光轴线方向。
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