[实用新型]一种激光探针微区成分分析仪无效
申请号: | 200920086880.3 | 申请日: | 2009-06-23 |
公开(公告)号: | CN201434840Y | 公开(公告)日: | 2010-03-31 |
发明(设计)人: | 曾晓雁;陆永枫;郭连波;蔡志祥;曹宇;李常茂 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63;G01N21/01 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本实用新型属于激光探测技术领域,具体为一种激光探针微区成分分析仪。其结构为:激光器,扩束镜和第一全反射镜依次位于同一水平光路上;第一全反射镜的反射面与水平光路的夹角为45度;工业CCD位于第一全反射镜的上方,工业CCD和第一聚焦物镜自上而下依次放置且光轴重合;三维工作台的工作台面位于第一聚焦物镜的下方;全反射镜活动安装在样品的反射光路上,光纤探头位于全反射镜的反射光路上;工业CCD通过光纤与带有显示器的计算机连接,光纤探头与光栅光谱仪、增强型CCD和计算机连接。该激光探针仪能对物质微区元素进行无损探测,能满足各种材料及尺寸的器件的快速元素成分定性分析,还可以针对样品微区的微量甚至痕量元素进行高精度的定量分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 激光 探针 成分 分析 | ||
【主权项】:
1、一种激光探针微区成分分析仪,其特征在于:激光器(1)、扩束镜(5)和第一全反射镜(7)依次位于同一水平光路上,第一全反射镜(7)的反射面与水平光路的夹角为45度;工业CCD(10)位于第一全反射镜(7)的上方,第一聚焦物镜(19)位于第一全反射镜(7)下方,第一聚焦物镜(19)和工业CCD(10)的光轴重合;三维工作台的工作台面位于第一聚焦物镜(19)的下方,用于放置样品(23);第二全反射镜(9)活动安装在样品(23)的反射光路上,光纤探头(8)位于第一全反射镜(7)的反射光路上;工业CCD(10)通过光纤与带有显示器的计算机连接,光纤探头(8)通过光纤(25)依次与光栅光谱仪(27)、增强型CCD(28)相连,后者通过同轴电缆和计算机连接。
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