[发明专利]测试单元控制器替代清洁装置及其方法

摘要

本发明公开了一种测试单元控制器替代清洁装置及其方法，该装置用来清洁在载板上的插座或插孔的电接口的引脚组件，包括主要测试框架，复数个托盘，测试芯片插孔和至少一个撷取装置。预备测试的芯片(电子组件)被载置在托盘上，而复数个黏性清洁芯片被载置在另一个托盘上。该该黏性清洁芯片具有固态层与黏着层，而磨料被混和在黏着层。该撷取装置去除黏性清洁芯片至测试芯片插孔上的一个位置，并且利用吸力或研磨来清理可能影响测试结果、黏在插孔上的氧化物与其它外来颗粒污染物。因此必须中断装置的运行以蚀刻方式清洁测试引脚的状况可以被排除，并可增加工作效率。

主权项

一种测试单元控制器替代清洁装置，该装置用来清洁在载板上的插座或插孔的电接口的引脚组件，且该载板用于半导体装置，该半导体装置以测试设备与相关处理装置进行测试；其特征在于：该清洁装置包含：具有构造的基板，该构造在经由正常操作下被传入插座或插孔的电接口，其中该基板近似于半导体装置的构造；以及清洁媒介，该清洁媒介具有一或多层，用以保护该基板，该清洁媒介为让引脚组件被擦亮与刷洗，同时清洁与收集碎屑，从而将引脚组件和插座的表面的脏污与剩余物消除，该清洁媒介使得引脚组件与插头表面有接触，从而该引脚组件与插头表面被清洁，在正常操作下不会有改变或损坏。