[发明专利]一种用于确定器件单粒子敏感体积厚度的方法有效

专利信息
申请号: 200910259317.6 申请日: 2009-12-17
公开(公告)号: CN101726254A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 薛玉雄;田恺;马亚莉;杨生胜;曹洲 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 张利萍
地址: 730000*** 国省代码: 甘肃;62
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种用于确定器件单粒子敏感体积厚度的方法,属于空间辐射效应及加固技术领域。计算激光在敏感体积中沉积的能量,当激光沉积在器件敏感体积单元中的电荷数,达到或超过器件临界电荷便发生单粒子效应,对于不同脉冲激光波长下的单粒子效应临界电荷相同,激光模拟系统的激光诱发得到单粒子效应能量阈值数据,得到器件单粒子效应敏感体积(Sv)厚度。本发明的方法对器件和实验人员无辐射损伤、操作非常便捷、费用廉价,能精确地测量器件敏感体积厚度大小。
搜索关键词: 一种 用于 确定 器件 粒子 敏感 体积 厚度 方法
【主权项】:
一种用于确定器件单粒子敏感体积厚度的方法,其特征在于:1)由Beer定律可知激光在器件中的能损为: dE dz = - α ( λ ) E 0 ( 1 - R ) exp ( - α ( λ ) z ) 2)激光在敏感体积中沉积的能量为: ΔE = h h + Z dE dz f ( z ) dz = h h + Z - α ( λ ) ( 1 - R ) E 0 exp ( - α ( λ ) z ) f ( z ) dz - - - ( 1 ) 3)当激光沉积在器件敏感体积单元中的电荷数,达到或超过器件临界电荷便发生单粒子效应,脉冲激光诱发器件发生单粒子效应的临界电荷为: Q C = ΔE ϵ laser e - - - ( 2 ) 将(1)式带入(2)式,化简便可得:QC=(1-R)E0exp(-α(λ)Z)[exp(α(λ)h)-exp(-α(λ)h)]e/εlaserZ (3)4)激光模拟系统的波长λ1为1064nm和波长λ2为1079nm的激光诱发的单粒子效应能量阈值数据分别为E1和E2,便有: E 1 ( 1 - R ) exp ( - α ( λ 1 ) Z ) ( exp ( α ( λ 1 ) h - exp ( - α ( λ 1 ) h ) ϵ laser e = E 2 ( 1 - R ) exp ( - α ( λ 2 ) Z ) ( exp ( α ( λ 1 ) h - exp ( - α ( λ 2 ) h ) ϵ laser e - - - ( 4 ) 5)由于激光波长为1064nm和激光波长为1079nm的穿透深度为几百微米,远远大于器件钝化层,即h<<1/α,对方程(4)化解,可得测量器件敏感体积厚度为: Z = ln ( E 2 α ( λ 2 ) E 1 α ( λ 1 ) ) α ( λ 2 ) - α ( λ 1 ) - - - ( 5 ) 把实验中获得的不同激光波长的单粒子效应能量阈值E1和E2代入公式(5)中,便可得到器件单粒子效应敏感体积厚度Z。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所,未经中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910259317.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top