[发明专利]以二维单基色对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置无效
| 申请号： | 200910250911.9 | 申请日： | 2009-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN102102981A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 曾艺;张海明;徐其明 | 申请（专利权）人： | 重庆工商大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 400067 重庆市南*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 以二维单基色对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置，由一台计算机及其摄像头组成。其测量位移的方法是，选取一种基色，沿x轴和y轴方向，分别提取所取单基色的二维对比度作为图像帧的特征；选取一帧图像作为参考帧，对其中选取的比较窗区域内所取单基色的两帧边方向数据相对后续取样帧进行交叉关联匹配计算，取其最佳匹配者的平均值作为本次测量的结果；据此位移测量值，决定是否更新参考帧，并调整比较窗的位置以及交叉关联匹配算子阵列的规模，以保证下一次测量的精度以及减少计算量。本发明既可以比较有效地克服了环境光照中其它波长对测量的影响，又大大提高了测量速度。 | ||
| 搜索关键词： | 二维 基色 对比度 特征 匹配 测量 位移 方法 装置 | ||
【主权项】：
以二维单基色对比度为特征帧匹配测量位移的方法及装置，由一台计算机及其摄像头组成，其特征在于，所述计算机还配置有摄像头拍摄及二维单基色边方向数据帧匹配测量位移程序。
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